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微波参数测量实验 一.实验目的 1.了解各种微波器件 2.了解微波工作状态及传输特性 3.了解微波传输线场型特性 4.熟悉驻波、衰减、波长(频率)和功率的测量 5.学会测量微波介质材料的介电常数和损耗角正切值 二.实验设备 波导参数测量系统,包括微波信号源、波导测量线、选频放大器、可变衰减器、波长表、负载等 频率范围: 8600~9600MHz 波导标准:BJ100 (GB11450.2-89) 法兰盘型号:FB100 环境条件:按电子测量仪器环境试验总纲(GB6587.1-86)第二组标准 供电要求:试验用各种仪器均需用交流稳压电源 三.实验内容 3.1 驻波测量:
图三:功率衰减法连接框图 3.2.1按图三连接仪器,使系统正常工作,精密衰减器置于“零”衰减刻度。 3.2.2将测量线的探针调到驻波波节点,调节精密可变衰减器,使电表指示在80刻度附近,并记下该指示值。
3.2.3将测量线的探针调到驻波波腹点,并增加精密衰减器的衰减量,使电表指示恢复到上述指示值,读取精密衰减器刻度并换算出衰减量的分贝值A。被测驻波系数为:
3.3 频率测量(谐振腔法): 3.3.1按图一所示的框图连接微波实验系统。 3.3.2将检波器及检波指示器接到被测件位置上。 3.3.3用波长表测出微波信号源的频率。旋转波长表的测微头,当波长表与被测频率谐振时,将出现吸收峰。反映在检波指示器上的指示是一跌落点,(参见图四)此时,读出波长表测微头的读数,再从波长表频率与刻度曲线上查出对应的频率。 检波指示器指示I 谐振点 波长表测微头刻度 3.4波导波长的测量:
图五: 波导波长测量系统框图 3.4.1按图五连接测量系统。由于可变电抗的反射系数接近1,在测量线中入射波与反射波的叠加为接近纯驻波的图形,如图六所示,只要测得驻波相邻节点得位置L1、L2,由 ,即可求得波导波长λg。
3.4.2 为了提高测量精度,在确定L1,L2时,可采用等指示度法测出最小点Imin对应的L(参看图六),即可测出I1(I1略大于Imin),相对应的两个位置
同理:即可求得精度较高的λg 。
3.5 功率的测量
按图七连接仪器,使系统正常工作。注意:开机前将系统中的全部仪器必须可靠接地,否则,功率头极易烧毁。 3.5.1 相对功率测量: 波导开关旋至检波器通路,当检波器工作在平方率检波时,电表上的读数I与微波功率成正比:电流表的指示I∝P,即表示为相对功率。 3.5.2 绝对功率测量: 波导开关旋至功率计通路,用功率计可测得绝对功率值。 3.6 衰减的测量
定义:衰减量 其中:P1为匹配状态下的输入功率。 P2为匹配状态下的输出功率。
3.6.1 直接测量法:按图八所示的框图连接微波系统,使微波信号源处于最佳工作状态。 接入被测器件前,调整调配器,使测量线上测得得检波部分为匹配状态,并从指示器上读得电流I1。 接入被测器件后,从指示器上读得电流I2。当检波器为平方律检波时:
3.6.2 高频替代法 被测器件接入前,调节精密可变衰减器至A1,使指示器指示为I 。被测器件接入后,调节精密可变衰减器至A2,使指示器指示仍为I 。被测器件的衰减量A=A2-A1,此法比直接测量法精确,其测试精度取决于衰减器的精度。 注意:进行衰减量测量时,被测器件应与测试系统匹配。 3.7介质ε及tgδ测试系统 使用步骤: 1.按图九连接测试系统,使信号源处于扫频工作状态。 2.在样品未插入腔内时,找出样品谐振腔的谐振频率。(即改变扫频信号源的扫频范围),从示波器观察谐振腔的谐振曲线,用波长表测量腔的谐振频率f0(见图十)。注:精密衰减器需单独配备 利用波长表在示波器上形成的“缺口尖端”为标志点,测定示波器横轴的频标系数K(即单位长度所对应的频率范围,以兆赫/格表示)作法是:调节波长表,使吸收峰在示波器横向移动适当距离△L,由波长表读出相应的频率差值△f,则频标系数K=△f/△L,一般可以做到K=0.4兆赫/格,谐振曲线的半功率频宽 │f1-f2│ 可以由K和半功率点的距离│L1-L2│决定。 3. 在样品插入后,改变信号源的中心工作频率,使谐振腔处于谐振状态,再用上述方法测量的谐振频率fs 和半功率频宽︱f’1-f’2︱。
4. 利用公式 算出QL, Q’L 其中:QL……样品放入前的品质因数 Q’L……样品放入后的品质因数 利用公式 可以算出 f0……谐振腔未放入样品前的谐振频率 fs……谐振腔放入样品后的谐振频率 V0……谐振腔体积 VS……样品的体积 注:作样品谐振腔的谐振曲线需用扫频信号源,若没有扫频信号源,则应逐点改变信号源的频率,并保持每个频率上有相同的输出功率。
图九:介质ε及tgδ测试系统方框图
图十:样品谐振腔的谐振曲线 |
电磁波实验:
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